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2025

8-21

掃描透射電子顯微鏡（STEM）是一種融合透射電子顯微鏡（TEM）與掃描電子顯微鏡（SEM）技術的分析工具，其核心原理基于高能電子束與樣品的相互作用及逐點掃描成像機制。工作原理：STEM通過場發射電子槍產生高度聚焦的電子束，經電磁透鏡系統會聚成原子尺度的電子探針。在掃描線圈控制下，電子探針在樣品表面進行逐點光柵掃描。當電子束穿透樣品時，與原子發生彈性/非彈性散射，透射電子或散射電子被樣品下方的探測器接收。例如，環形暗場（ADF）探測器收集高角度散射電子，其信號強度與原子序數平方...

2025

8-16

高分辨率掃描電鏡在生物樣品分析中的應用

高分辨率掃描電鏡在生物樣品分析中具有極為重要的應用價值。它通過掃描電子束與樣品表面相互作用，提供高分辨率的表面形貌圖像，并能夠獲取樣品的組成、結構及其功能特性。特別是在生物學、醫學以及生命科學領域，被廣泛應用于觀察細胞、組織以及微觀生物結構的細節。本文將討論高分辨率掃描電鏡在生物樣品分析中的應用。一、細胞形態和表面結構的觀察它能夠詳細觀察到細胞的形態、表面結構以及細胞間的相互作用。例如，在觀察細胞表面時，能夠清晰地揭示細胞膜的形態、細胞突起、微絨毛等微觀結構。此外，還可以用于...

2025

8-13

環境真空掃描電鏡的原理與技術優勢

環境真空掃描電鏡是一種結合掃描電子顯微鏡與環境控制技術的高分辨率顯微技術，能夠在較寬的環境條件下進行樣品的觀察和分析，特別適用于在傳統掃描電子顯微鏡無法有效操作的樣品，如水分較多、有氣體揮發或是需要特定氣氛的樣品。一、工作原理環境真空掃描電鏡的核心原理與傳統SEM類似，都是通過掃描電子束與樣品表面相互作用產生信號，并通過這些信號獲取圖像。然而，最大的特點是在掃描過程中，樣品并不需要像傳統SEM一樣在高真空條件下操作，而是可以在一定的氣壓范圍內進行分析。為了實現這一點，它采用了...

2025

8-10

透射掃描電子顯微鏡在納米科學中的應用

透射掃描電子顯微鏡是一種結合了透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡優點的高分辨率顯微技術。在納米科學研究中，憑借其超高的分辨率和能夠對樣品進行多層次、多角度分析的能力，成為了重要的實驗工具。本文將探討透射掃描電子顯微鏡在納米科學中的應用。一、納米材料的結構表征納米材料在納米科技中具有重要的應用，如納米管、納米顆粒、量子點等。它能夠以很高的分辨率觀察到這些材料的結構、尺寸、形態和排列。通過使用，可以詳細了解納米材料的形貌特征、缺陷、晶格結構等，從而為其設計與優化提供基礎數據。例如，可...

2025

8-7

場發射電鏡的基本原理與技術特點

場發射電鏡是一種應用于高分辨率成像的電子顯微鏡。與傳統的掃描電子顯微鏡（SEM）不同，它使用場發射源作為電子束的發射源，能夠提供比熱發射電子槍更高的亮度和更小的電子束斑。一、基本原理場發射電鏡的工作原理基于場發射效應。在高電場的作用下，電子從金屬表面被“拉出”，并加速形成電子束。電子束在電鏡中經過透鏡系統的聚焦后，照射到樣品表面，掃描樣品并與其相互作用，產生二次電子、背散射電子和X射線等信號，這些信號被探測器接收并轉化為圖像。其核心優勢在于其電子源——場發射源，通常是冷場發射...

2025

7-21

便攜式合金分析儀的工作原理：XRF與LIBS技術對比

便攜式合金分析儀的核心技術以X射線熒光光譜（XRF）與激光誘導擊穿光譜（LIBS）為主，二者在原理、應用場景及性能上存在顯著差異。XRF技術基于元素特征熒光效應，通過X射線管發射高能X射線激發樣品原子內層電子，外層電子躍遷填補空位時釋放特定能量的二次X射線（熒光）。探測器捕獲熒光能量后，與內置數據庫比對實現元素定性定量分析。該技術優勢在于無損檢測，無需樣品預處理，檢測范圍覆蓋鈦、釩等21種元素，精度達0.03%-0.5%。例如，奧林巴斯Axon系列采用硅漂移探測器（SDD）與...

2025

7-16

FIB雙束電鏡在集成電路失效分析中的應用

FIB雙束電鏡是一種集成了聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）技術的復合型儀器。該儀器在集成電路（IC）失效分析中具有重要的應用價值，能夠對電子元件內部的結構和失效機理進行深入的研究與分析。集成電路失效分析的核心任務是確定電路或芯片失效的根本原因，分析過程通常需要對芯片內部結構進行深入剖析。FIB雙束電鏡在這一過程中提供了許多重要的技術支持，具體應用如下：1、電路故障定位與剖析集成電路的故障通常由微小的物理損傷、連接斷裂、污染或過熱等原因引起。它能夠通過聚焦離子束對...

2025

7-13

sem掃描電鏡在微觀結構分析中的重要性

sem掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，通過探測二次電子或反射電子的信號，生成高分辨率圖像的電子顯微鏡。與傳統的光學顯微鏡相比，它具有更高的放大倍率、更強的深度景深和更廣泛的應用領域，尤其在微觀結構分析中展現出巨大的優勢。sem掃描電鏡在微觀結構分析中的重要性，主要體現在以下幾個方面：1、高分辨率與細節呈現最大的優勢之一是其很高的分辨率，通常能夠達到納米級別，遠高于傳統光學顯微鏡的分辨率。通過掃描電子束，能夠呈現出樣品表面最細微的結構細節，例如微小的裂紋、孔隙、表面形貌、...

2025

7-11

電鏡應用|鋼中復雜氧化物-硫化物-氮化物夾雜物的自動化SEM- EDS分析與相分析案例

熔融鐵幾乎是一種通用溶劑，能夠輕松溶解鉻、鉬和鎢等金屬，從而制造各種有價值的合金。然而，這一特性也可能是一把雙刃劍，因為在將鐵煉成鋼的過程中，必須謹慎控制氧、硫和氮等元素。這些輕元素在合金鋼中的溶解度較低，在精煉和熱軋過程中，容易形成不利的反應產物（即夾雜物）。這些生成的氧化物、硫化物和氮化物的微小夾雜物無法通過簡單的浮選去除，從而成為最終鋼材的永久組成部分，影響其機械性能和質量。PART01背景簡介生產鋼材的過程中涉及極高的溫度和高度氧化的環境。高爐-氧氣轉爐一體化工藝和電...

2025

7-10

FEI掃描電鏡在納米材料表征中的應用

FEI掃描電鏡是一種廣泛應用于納米材料表征的重要工具。由于其高分辨率和精確的圖像能力，在納米尺度材料的表面形貌、結構以及其他物理化學性質的研究中發揮了重要作用。下面將詳細介紹FEI掃描電鏡在納米材料表征中的應用。一、高分辨率表征它利用電子束掃描樣品表面，能夠產生高分辨率的圖像，這對于研究納米材料的表面形貌和微觀結構至關重要。由于電子束的波長遠小于可見光，因此能夠清晰地觀察到納米尺度上的細節，如單個納米顆粒、納米管、納米線等。分辨率可以達到納米級，甚至亞納米級，這使得它能夠清晰...